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北京恒奧德儀器儀表有限公司
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北京恒奧德儀器薄膜測厚儀操作使用原理

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詳細介紹

薄膜測厚儀的操作使用原理主要基于以下幾種物理測量方法?

 

?機械接觸式測量方法?:這種方法將預先處理好的樣品置于設備測量臺面上,測量頭以一定的壓力落到試樣的另一面上,傳感器檢測上下測量面之間的距離,即為薄型試樣的厚度。這種方法適用于各種單層薄膜材料或者紙張等平面材料的厚度測量?12

 

?磁感應法?:利用磁感應原理,通過測量磁場在薄膜中的變化來推斷薄膜的厚度。當測頭(帶有磁場的部件)接近或接觸薄膜時,薄膜對磁場的影響會導致磁通量的變化,通過測量這種變化可以計算出薄膜的厚度。這種方法主要適用于導磁基體上的非導磁覆層厚度的測量,如金屬表面涂層、電鍍層等?23

 

?光學干涉法?:當一束光波或電磁信號照射到材料表面時,一部分光或信號會被反射,另一部分會透射。在薄膜表面和底部之間,這些光波或電磁信號會經歷多次反射和透射,形成干涉現象。通過測量反射和透射光波的相位差,可以計算出薄膜的厚度。這種方法適用于各種材料的薄膜厚度測量?24

 

?X射線吸收法?:使用X射線穿過薄膜,并測量透射的X射線強度。不同厚度的薄膜會吸收不同量的X射線,因此可以通過測量透射X射線的強度來推斷薄膜的厚度。這種方法適用于各種材料的薄膜厚度測量,特別是對于較厚的薄膜或需要高精度測量的場合?2

 

?電容法?:通過在薄膜上施加電場,并測量電容的變化來計算薄膜的厚度。由于薄膜的厚度會影響其電容值,因此可以通過測量電容的變化來間接得到薄膜的厚度。這種方法特別適用于電介質薄膜的厚度測量?


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